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第一章 可编程逻辑器件PLD技术简介1

1.1 可编程逻辑器件简介1

1.1.1 只读存储器1

1.1.2 现场可编程逻辑阵列3

1.1.3 可编程阵列逻辑4

1.1.4 通用阵列逻辑5

1.1.5 大规模PLD7

1.1.6 现场可编程门阵列10

1.2 可编程逻辑器件设计语言ABEL简介11

1.2.1 ABEL-HDL语言的基本语法11

1.2.2 ABEL-HDL语言源文件的基本结构14

1.2.3 逻辑描述20

1.3 ISP Synario System简介26

1.3.1 ISP Synario的使用方法27

1.3.2 ISP Synario逻辑图输入方法30

1.3.3 ABEL-HDL语言和逻辑图混合输入方法30

1.3.4 引脚锁定方法31

1.3.5 Synario System产生的文件31

1.4 在系统编程37

第二章 FD-CES系统硬件简介38

2.1 FD-CES特性38

2.2 FD-CES控制台及其使用方法43

2.2.1 内存操作45

2.2.2 控存操作46

2.2.3 EEPROM操作47

2.2.4 程序运行49

2.3 实验计算机使用外设的方法49

2.3.1 键盘的等效框图和工作原理50

2.3.2 打印机的等效框图和工作原理50

2.3.3 实验计算机与外部设备的连接使用方法52

2.4 FD-CES功能模块53

2.4.1 运算器模块53

2.4.2 寄存器堆模块58

2.4.3 指令部件模块61

2.4.4 内存模块66

2.4.5 总线缓冲模块68

2.4.6 微程序控制模块70

2.4.7 启停和时序模块73

2.4.8 控制台控制模块75

2.4.9 与PC机串行口通信模块77

2.5 FD-CES实验板77

2.5.1 TTL器件实验接线板77

2.5.2 PLD实验板83

第三章 FD-CES系统软件简介87

3.1 “FD-CES Assembler”功能87

3.1.1 编辑功能87

3.1.2 汇编功能92

3.2.1 整机框图选择功能94

3.2 “FD-CES Debugger”功能94

3.1.4 微程序代码文件生成功能94

3.1.3 反汇编功能94

3.2.2 文件下载功能95

3.2.3 实验机运行功能96

3.2.4 状态检测功能98

第四章 计算机基本部件实验100

4.1 TTL器件部件实验100

4.1.1 时序电路实验100

4.1.2 运算器部件实验107

4.1.3 存储部件实验112

4.1.4 总线传输实验118

4.1.5 中断控制器实验123

4.2 PLD部件实验128

4.2.1 总线传输实验128

4.2.2 运算器部件实验134

4.2.3 中断控制器实验138

第五章 计算机整机实验141

5.1 实验计算机的设计143

5.1.1 确定设计总要求143

5.1.2 设计整机逻辑框图143

5.1.3 设计指令系统143

5.1.4 设计指令执行流程152

5.1.5 确定微操作控制信号及其实现方法158

5.1.7 确定微程序控制方式159

5.1.6 设计微指令格式159

5.1.8 编写各指令的微程序161

5.1.9 设计实验接线表161

5.1.10 编写调试程序164

5.1.11 编写应用程序165

5.2 实验计算机的组装167

5.2.1 用TTL器件实验板实施167

5.2.2 用PLD实验板实施167

5.3 实验计算机的调试168

5.3.1 调试准备168

5.3.2 程序调试168

5.4 实验计算机故障的排除168

5.4.2 故障的分析查找169

5.4.1 故障类型和原因169

5.4.3 故障的纠正173

5.5 实验计算机研制举例173

5.5.1 设计要求173

5.5.2 样机逻辑框图173

5.5.3 样机指令系统和指令执行流程175

5.5.4 样机微指令格式和指令微程序176

5.5.5 设计微操作信号178

5.5.6 微操作信号的实施179

5.5.7 调试程序184

5.6 计算机整机实验设计题187

附录一 FD-CES实验仪符号表196

附录二 FD-CES有关集成电路198