图书介绍
数字集成电路设计与技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本下载
- 林丰成，竺红卫，李立编著 著
- 出版社： 北京：科学出版社
- ISBN：9787030220301
- 出版时间：2008
- 标注页数：330页
- 文件大小：69MB
- 文件页数：340页
- 主题词：数字集成电路－电路设计－研究生－教材
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图书目录
第1章 数字集成电路的历史与现状1
1．1数字集成电路的历史与现状1
1．2现代数字设计方法的发展8
1．3数字集成电路前端设计语言及后端设计软件（EDA）10
1．4数字IC的几种设计模式13
1．5数字IC设计面临的挑战15
1．6习题17
参考文献17
第2章 数字IC设计方法学18
2．1数字IC设计流程18
2．2层次化设计和模块划分37
2．3芯片封装和散热40
2．4 CMOS工艺选择40
2．5习题44
参考文献44
第3章 Verilog／VHDL硬件描述语言45
3．1 HDL的历史和优势45
3．2 Verilog数据类型与设计结构47
3．3基本建模方法52
3．4路径延时模型55
3．5逻辑行为建模57
3．6任务与函数68
3．7习题72
参考文献74
第4章 HDL逻辑设计75
4．1基本组合电路设计75
4．2基本时序电路设计78
4．3设计同步状态机80
4．4 SRAM的设计81
4．5复杂数字逻辑设计85
4．6设计示例：UART89
4．7可综合的Verilog RTL设计101
4．8代码书写风格105
4．9习题107
参考文献108
第5章 低功耗数字电路109
5．1数字电路介绍109
5．2低功耗设计技术120
5．3绝热逻辑电路125
5．4学习示例133
5．5习题136
参考文献138
第6章 逻辑电路的设计验证139
6．1验证概述139
6．2验证平台编码风格150
6．3验证平台模块设计152
6．4验证平台结构设计161
6．5断言172
6．6验证质量评估175
6．7习题180
参考文献183
第7章 逻辑综合184
7．1逻辑综合概述184
7．2逻辑综合中的基本概念187
7．3逻辑综合的步骤192
7．4综合脚本实例203
7．5现代先进综合技术219
7．6习题224
参考文献226
第8章 可测试性设计227
8．1 DFT挑战和设计方法227
8．2 JTAG边界扫描227
8．3逻辑内建自测试234
8．4存储器内建自测试236
8．5自动测试模式生成239
8．6存储器电路内建自测试241
8．7习题243
参考文献244
第9章 FPGA设计与芯片验证245
9．1 FPGA的基础知识245
9．2 FPGA的基本结构246
9．3 FPGA的设计流程256
9．4 FPGA的开发工具259
9．5 FPGA的同步设计原则275
9．6 FPGA的设计优化技巧282
9．7 FPGA设计实践287
参考文献290
第10章 基于硬件仿真系统的IC功能验证291
10．1硬件仿真器的起源291
10．2硬件仿真器和硬件仿真系统的定义293
10．3硬件仿真系统的实现原理294
10．4硬件仿真器系统，验证平台和运行方式300
10．5硬件仿真系统的编译307
10．6硬件仿真系统的运行控制和查错手段312
10．7应用实例分析315
10．8总结324
10．9习题324
参考文献325
索引326