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前言页1

第一章 透射电子显微镜的原理和构造1

1-1 引言1

1-2 电子光学原理简述2

1-3 电子显微镜的构造7

一、照明系统8

二、成象系统10

三、观察和记录系统16

四、真空系统17

1-4 当前电子显微镜的发展动向18

第二章 电子衍射基础24

2-1 引言24

2-2 电子的性质24

2-3 运动电子与物质交互作用产生的信息26

2-4 原子对电子的散射30

一、描述运动电子的方程及其解30

二、原子对电子的散射32

2-5 单胞对电子的散射35

2-6 晶体对电子的散射44

3-2 选区域电子衍射原理49

3-1 引言49

第三章 电子衍射实验方法49

3-3 Lλ值的意义及其测定方法和误差来源57

一、Lλ值的意义57

二、测定Lλ常数的方法59

三、仪器常数Lλ的误差来源59

3-4 衍射谱相对于显微象偏转角的测定61

3-5 试样制备方法63

第四章 倒易点阵72

4-1 引言72

4-2 正空间和倒空间、倒易点阵的引入73

4-3 倒易面(标准单晶衍射图谱)的绘制方法78

4-4 借助倒易点阵方法计算晶面间距、晶面夹角及晶向长度81

一、求晶面间距与晶面指数的关系81

二、求晶面夹角余弦的表达式84

三、求晶向长度的表达式93

4-5 正点阵与倒易点阵的指数互换93

一、正点阵与倒易点阵的互换公式和运算矩阵93

二、六方晶系指数换算中的问题98

4-6 晶体几何形状对倒易点形状的影响102

5-2 分析过程综述107

5-1 引言107

第五章 标定电子衍射谱的一般程序107

5-3 立言晶系衍射谱的标定114

一、查？比值表法114

二、特征平等四边形的标定方法120

三、计算尺标定法122

四、利用标准衍射图谱进行标定123

五、指数标定注意事项125

5-4 六方晶系衍射谱的标定131

一、一般讨论131

二、六方晶系衍射谱的标定方法134

5-5 四方晶系电子衍射谱的标定139

5-6 正交晶系电子衍射谱的标定142

5-7 多晶电子衍射谱的标定143

第六章 孪晶电子衍射谱的分析146

6-1 引言146

6-2 孪晶和晶体几何学148

6-3 立方晶系孪晶衍射谱的分析151

一、基本公式151

二、讨论152

三、孪晶衍射谱的标定方法158

6-4 高次孪晶电子衍射谱的分析163

一、任意晶系孪晶晶面及晶向指数的转换矩阵166

6-5 孪晶矩阵的一般表达式(任意晶系孪晶分析)166

二、任意晶系孪晶转换矩阵应用于各晶系169

6-6 标定孪晶电子衍射谱的解析方法173

第七章 高阶劳厄区电子衍射谱的分析179

7-1 引言179

7-2 形成高阶劳厄区衍射谱的几何学讨论179

一、概述179

二、不对称劳厄区181

三、对称劳厄区191

一、取原倒易点阵坐标系为坐标系进行计算194

7-3 高层倒易面(uvw)？上倒易点在零层倒易面(uvw)？上的投影位置194

二、取新坐标轴I？、G1和G2进行计算197

7-4 高阶劳厄区衍射谱标定程序及举例198

一、与标定有关的若干问题198

二、计算举例200

7-5 标定高阶劳厄区衍射谱的直接方法205

7-6 高阶劳厄区衍射谱的应用208

一、利用零阶劳厄区上高阶斑点位置鉴定物相209

二、利用高阶劳厄区的曲率，测定倒易面间距，以鉴定物相210

8-1 引言212

第八章 菊池衍射谱分析212

8-2 菊池衍射花样的几何学213

8-3 菊池线的指标化222

一、零阶劳厄区菊池线指标化222

二、高阶劳厄区菊池线指标化224

三、菊池图224

8-4 菊池线的应用232

一、晶体取向的精确测定233

二、衍衬分析238

三、校正电子显微镜试样倾动台的角度238

四、偏离参量s的测定240

五、电子束波长(加速电压)的校正241

六、临界电压测定243

第九章 取向关系测定和迹线分析方法245

9-1 引言245

9-2 电子衍射测定取向关系的一般程序246

9-3 描述两相取向关系的矩阵方法252

一、矩阵方法概述253

二、矩阵方法应用于测定取向关系256

9-4 迹线分析方法264

一、线状结构特征的取向分析265

二、平面结构特征的取向分析267

三、迹线分析的精确度274

第十章 衍衬原理概述277

10-1 引言277

10-2 电子显微象的衬度类型277

一、质量厚度衬度277

二、衍射衬度281

10-3 衍衬成象的运动学理论290

一、运动学理论的一般讨论290

二、振幅-相图298

10-4 衍衬成象的动力学理论300

第十一章 晶体缺陷的衍衬分析308

11-1 引言308

11-2 位错和层错的基本概念308

一、刃型位错和螺型位错308

二、汤普森标记法310

三、全位错的分解及层错313

四、固定位错(不动位错)316

五、扩展位错节318

六、体心立方金属中的位错318

七、六角结构晶体中的位错320

11-3 位错和层错的衍衬分析323

一、衍衬分析所需基本数据和实验条件323

二、位错布氏矢量的测定326

三、位错密度测量345

四、位错和层错的衍衬分析347

五、位错和层错的衍衬分析347

第十二章 第二相和界面的衍衬分析387

12-1 引言387

12-2 第二相的各种衬度387

一、应变衬度388

二、沉淀衬度392

12-3 第二相质点密度和尺寸分布的测量402

一、测量质点的体积密度403

二、用直线交截质点的方法测量质点的平均直径R403

三、利用NA-t曲线求NV和R403

四、不同直径范围内质点数的分布404

12-4 界面衍衬分析405

一、α边界、χ边界、δ边界405

二、同相界面及异相界面412

13-1 引言427

第十三章 弱束成象技术427

13-2 弱束成象原理简述428

13-3 弱束暗场象技术430

一、g/3g/弱束暗场象的实验步骤431

二、对称弱束暗场象的实验步骤433

三、弱束暗场技术中的若干问题434

13-4 弱束技术的应用438

一、关于位错的研究439

二、关于位错环的研究441

三、层错观察及层错能测定441

四、其它方面的应用445

参考文献447

附录一 加速电压和电子波长456

附录二 电子的原子散射因子f？(μ)(？)457

附录三 立方晶系常见孪晶和基体取向关系462

附录四 立方晶系电子衍射花样特征平行四边形表465

附录五 立方晶系晶面夹角表480

附录六 高阶、零阶劳厄区班点重迭图形486

附录七 孪晶衍射位置表507

附录八 若干金属材料的消光距离575

附录九 合金中常见第二相的晶体学数据582