图书介绍

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实用数字电子技术
  • (美)Nigel P. Cook著;施惠琼,李黎明译 著
  • 出版社: 北京:清华大学出版社
  • ISBN:730213779X
  • 出版时间:2006
  • 标注页数:443页
  • 文件大小:87MB
  • 文件页数:455页
  • 主题词:电子技术-教材

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图书目录

第Ⅰ部分 数字基础1

第1章 从模拟到数字1

月球漫步1

引言2

1.1 模拟和数字数据及设备2

1.1.1 模拟数据和设备2

1.1.2 数字数据和设备3

1.2 模拟信号与数字信号的相互转换7

复习题8

第2章 计数系统和编码10

取得成就10

引言10

2.1 十进制计数系统11

2.1.1 位权11

2.1.2 复位和进位11

2.2 二进制计数系统12

2.2.1 位权13

2.2.2 复位和进位14

2.2.3 将二进制数转换为十进制数14

2.2.4 将十进制数转换为二进制数15

2.2.5 信息信号的转换16

2.3 十六进制计数系统18

2.3.1 将十六进制数转换为十进制数19

2.3.2 将十进制数转换为十六进制数20

2.3.3 二进制与十六进制之间的相互转换21

2.4 二进制码24

2.4.1 BCD码24

2.4.2 余3码25

2.4.3 格雷码26

2.4.4 ASCII码27

复习题29

引言33

第3章 逻辑门33

无线33

3.1 基本逻辑门34

3.1.1 或门34

3.1.2 与门38

3.2 反相逻辑门43

3.2.1 非门44

3.2.2 或非门45

3.2.3 与非门48

3.3 互斥逻辑门50

3.3.1 异或门51

3.3.2 同或门53

3.4 逻辑门的IEEE/ANSI符号55

复习题57

从荒唐到精明62

第4章 逻辑电路化简62

引言63

4.1 逻辑门的布尔表达式63

4.1.1 “非”运算表达式63

4.1.2 “或”运算表达式64

4.1.3 “与”运算逻辑64

4.1.4 “或非”运算表达式67

4.1.5 “与非”运算表达式68

4.1.6 “异或”运算表达式69

4.1.7 “同或”运算表达式70

4.2 布尔代数的定理和规则72

4.2.1 交换律72

4.2.2 结合律72

4.2.3 分配律73

4.2.4 布尔代数的规则74

4.3 从真值表到门电路79

4.4.1 布尔代数化简法82

4.4 门电路化简82

4.4.2 卡诺图化简法84

复习题89

第5章 标准逻辑器件(SLD)93

诺伊斯的发明93

引言94

5.1 双极型数字集成电路系列94

5.1.1 标准TTL逻辑门电路96

5.1.2 低功耗TTL逻辑门和先进的TTL逻辑门103

5.1.3 肖特基TTL逻辑门103

5.1.4 集电极开路TTL门(Open-Collector TTL Gate)105

5.1.5 三态输出TTL门107

5.1.6 缓冲器/驱动器TTL门109

5.1.7 施密特触发器TTL门109

5.1.8 射极耦合逻辑(ECL)门电路109

5.1.9 集成注入逻辑(I2L)门电路111

5.2 MOS数字集成电路系列113

5.2.1 PMOS(P沟道MOS)逻辑电路113

5.2.2 NMOS(N沟道MOS)逻辑电路114

5.2.3 CMOS(互补MOS)逻辑电路115

5.2.4 MOSFET操作注意事项118

5.3 数字封装类型和复杂性分类119

5.3.1 早期的数字IC封装类型119

5.3.2 当前的数字IC封装类型120

5.3.3 数字IC电路的复杂性分类120

5.4 双极型和MOS逻辑系列的比较和接口121

5.4.1 双极型系列123

5.4.2 MOS系列123

5.4.3 逻辑系列接口123

5.4.4 其他逻辑门系列126

复习题127

不要提它(Don't Mention It)!132

第6章 可编程逻辑器件(PLD)132

引言133

6.1 为什么使用可编程逻辑器件133

6.1.1 用标准逻辑器件构造电路133

6.1.2 使用可编程逻辑器件构造电路134

6.2 可编程逻辑器件的类型137

6.2.1 早期的可编程逻辑器件137

6.2.2 当前的可编程逻辑器件138

复习题139

第7章 测试和故障诊断143

太空,最后的前沿143

引言144

7.1 数字测试设备144

7.1.1 用万用表进行测试144

7.1.2 用示波器进行测试146

7.1.3 用逻辑钳进行测试149

7.1.4 用逻辑探针进行测试150

7.1.5 用逻辑脉冲发生器进行测试151

7.1.6 用电流寻迹器进行测试153

7.2 数字电路问题155

7.2.1 数字IC问题155

7.2.2 数字电路器件的其他问题159

7.3 电路修复162

复习题163

第Ⅱ部分 数字电路167

第8章 组合逻辑电路167

复印之父167

引言168

8.1 译码器168

8.1.1 基本译码电路168

8.1.2 十进制译码器168

8.1.3 十六进制译码器170

8.1.4 显示译码器172

8.2.1 基本编码器电路177

8.2 编码器177

8.2.2 十进制-BCD编码器178

8.3 多路器180

8.3.1 8选1数据多路器/选择器181

8.3.2 8选4数据选择器184

8.4 多路输出选择器185

8.4.1 1线-8线多路输出选择器186

8.4.2 1线-16线多路输出选择器188

8.4.3 3线-8线译码器/多路输出选择器189

8.5 比较器191

8.6 奇偶发生器和奇偶检验器193

8.6.1 奇数或偶数奇偶校验193

8.6.2 九位奇偶发生器/检验器195

8.7 对组合逻辑电路进行故障检测197

8.7.1 组合逻辑电路197

复习题201

8.7.2 举例201

第9章 触发器和定时器207

冷持管207

引言208

9.1 置位-复位(S-R)触发器208

9.1.1 或非门构成的S-R触发器和与非门构成的S-R触发器208

9.1.2 电平触发S-R触发器212

9.1.3 边沿触发S-R触发器213

9.1.4 脉冲触发S-R触发器216

9.2 数据型(D)触发器220

9.2.1 电平触发D触发器220

9.2.2 边沿触发D触发器222

9.2.3 脉冲触发D触发器225

9.3 J-K触发器226

9.3.1 边沿触发J-K触发器227

9.3.2 脉冲触发J-K触发器231

9.4 数字定时器和控制电路233

复习题240

第10章 时序逻辑电路246

Trash246

引言246

10.1 缓冲寄存器247

10.2 移位寄存器248

10.2.1 串入串出(SISO)移位寄存器248

10.2.2 串入并出(SIPO)移位寄存器251

10.2.3 并入串出(PISO)移位寄存器252

10.2.4 双向移位寄存器254

10.3 三态输出寄存器257

10.4 寄存器的应用261

10.4.1 存储寄存器261

10.4.2 串行-并行和并行-串行数据转换器262

10.4.3 算术运算264

10.4.4 移位寄存器计数器/时序器264

10.5.1 异步二进制加计数器269

10.5 异步计数器269

10.5.2 异步二进制减计数器274

10.5.3 异步二进制加/减计数器275

10.5.4 异步十进制(模为10)计数器275

10.5.5 异步可预置数的计数器278

10.6 同步计数器281

10.6.1 同步二进制加计数器281

10.6.2 同步计数器的优点281

10.6.3 同步可预置数二进制计数器283

10.6.4 同步十进制(模为10)计数器285

10.6.5 同步加/减计数器286

10.7 计数器的应用288

10.7.1 数字钟288

10.7.2 频率计290

10.7.3 多路显示器293

10.8.1 计数器电路295

10.8 计数器电路的故障诊断295

10.8.2 例题297

复习题298

第11章 算术运算电路302

Menlo公园里的奇才302

引言302

11.1 算术运算303

11.1.1 二进制算术303

11.1.2 正、负数表示法309

11.1.3 补码算术315

11.1.4 更大和更小数字的表示法322

11.2 算术电路323

11.2.1 半加器324

11.2.2 全加器326

11.2.3 并行加法器326

11.3.1 基本补码加法/减法电路329

11.3 算术电路的应用329

11.3.2 算术逻辑单元(ALU)集成电路331

复习题332

第12章 半导体存储器336

展翅高飞336

引言336

12.1 只读存储器(ROM)338

12.1.1 基本的二极管ROM339

12.1.2 带地址译码的二极管ROM339

12.1.3 半导体ROM特性339

12.1.4 ROM的分类344

12.1.5 ROM的应用347

12.1.6 ROM的测试349

12.2 半导体读/写存储器(RAM)350

12.2.1 顺序连接存储器SAM与随机存储器RAM350

12.2.2 RAM分类353

12.2.3 RAM的应用361

12.2.4 RAM的测试364

复习题365

第Ⅲ部分 数字系统371

第13章 模拟和数字信号转换器371

去做一些更有意义的事情371

引言371

13.1 模拟和数字信号转换372

13.1.1 模拟和数字设备与计算机的连接372

13.1.2 信息信号的转换373

13.2 数/模转换器(DAC)375

13.2.1 二进制加权电阻DAC375

13.2.2 R/2RT型电阻DAC378

13.2.3 DAC的主要技术指标381

13.2.4 一个DAC应用电路384

13.2.5 DAC的测试385

13.3.1 阶梯式ADC386

13.3 模/数转换器(ADC)386

13.3.2 逐次逼近ADC388

13.3.3 快速ADC390

13.3.4 一个ADC应用电路390

13.3.5 ADC测试393

复习题394

第14章 计算机硬件和软件398

影响398

引言398

14.1 微型计算机基础知识399

14.1.1 硬件399

14.1.2 软件400

14.2 微型计算机系统406

复习题425

附录A 自测题参考答案432

附录B 复习题单号题参考答案439

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