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ECL微型电路的可靠性评价
  • 出版社: 国防科委情报资料研究所
  • ISBN:
  • 出版时间:1980
  • 标注页数:140页
  • 文件大小:7MB
  • 文件页数:144页
  • 主题词:

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图书目录

目 录1

Ⅰ.序言1

Ⅱ.一般情况3

A.产品交货期3

B.气密性试验3

C.镀金3

Ⅲ.电参数和电路4

A.参数测试4

B.发射极耦合逻辑电路5

C.实际的ECL电路6

D.输入/输出转换特性7

E.噪声容限9

F.开关时间测量10

G.热阻测量12

Ⅳ.结构分析14

Ⅴ.寿命试验17

A.极限寿命试验17

B.长期寿命试验21

A.失效模式及其电气分析37

Ⅵ.失效判据和失效分析结果37

B.失效机理39

C.失效分析结果48

D.讨论49

Ⅶ.总结50

A.失效模式与失效机理50

B.可靠性预测和实验结果56

C.金属化系统和玻璃保护层57

D.电气性能58

A.输入/输出转换特性(图A-1~A-42)60

Ⅷ.附录60

B.A厂10501型结构分析74

C.A厂10506型结构分析81

D.A厂1662型结构分析86

E.B厂10101型和10106型结构分析94

F.C厂10101型结构分析106

G.C厂10106型结构分析112

H.A厂10561型结构分析119

I.D厂95101型结构分析127

J.A厂10100系列参数规范135

K.双列直插式封装镀锡管脚的化学腐蚀和镀金136

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