图书介绍
CMOS超大规模集成电路设计 第4版PDF|Epub|txt|kindle电子书版本下载
- （美）韦斯特，（美）哈里斯著 著
- 出版社： 北京：电子工业出版社
- ISBN：9787121174704
- 出版时间：2012
- 标注页数：712页
- 文件大小：145MB
- 文件页数：734页
- 主题词：超大规模集成电路－电路设计－高等学校－教材
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CMOS超大规模集成电路设计 第4版PDF格式电子书版下载
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图书目录
第1章引论1
1.1集成电路简史1
12概述5
1.3MOS晶体管5
1.4CMOS逻辑7
1.5CMOS的制造和版图17
1.6设计划分（DesignPaitioning）25
1.7举例：一个简单的MIPS微处理器28
1.8逻辑设计33
1.9电路设计36
1.10物理设计39
1.11设计验证45
1.12制造、封装和测试46
本章小结和本书概要47
习题49
第2章MOS晶体管原理51
2.1引言51
2.2长沟道晶体管的I-V特性54
2.3C-V特性57
2.4非理想的I-V效应61
2.5直流传输特性73
2.6常见隐患与误区78
本章小结79
习题80
第3章CMOS工艺技术82
3.1引言82
3.2CMOS工艺83
3.3版图设计规则93
3.4CMOS工艺增强技术99
3.5与工艺相关的CAD问题109
3.6有关制造的问题111
3.7常见隐患与误区114
3.8历史透视115
本章小结116
习题117
第4章 延时118
4.1引言118
4.2瞬态响应120
4.3 RC延时模型122
4.4线性延时模型130
4.5路径逻辑努力138
4.6用于时序分析的延时模型147
4.7常见隐患与误区148
4.8历史透视148
本章小结149
习题150
第5章 功耗153
5.1引言153
5.2动态功耗157
5.3静态功耗164
5.4能耗-延时的优化170
5.5低功耗体系结构173
5.6常见隐患与误区175
5.7历史透视176
本章小结177
习题178
第6章 互连线179
6.1引言179
6.2互连线建模180
6.3互连线的影响186
6.4互连线设计194
6.5考虑互连线时逻辑努力方法的应用199
6.6常见隐患与误区201
本章小结201
习题201
第7章 鲁棒性203
7.1引言203
7.2扰动203
7.3可靠性207
7.4按比例缩小215
7.5扰动的统计分析222
7.6容扰动设计233
7.7常见隐患与误区235
7.8历史透视236
本章小结239
习题240
第8章 电路模拟241
8.1引言241
8.2 SPICE模拟器简介241
8.3器件模型251
8.4器件表征255
8.5电路表征264
8.6互连线模拟269
8.7常见隐患与误区272
本章小结273
习题274
第9章 组合电路设计275
9.1引言275
9.2电路系列276
9.3电路隐患301
9.4其他电路系列307
9.5绝缘体上硅的电路设计307
9.6亚阈值电路设计310
9.7常见隐患与误区312
9.8历史透视313
本章小结315
习题316
第10章 时序电路设计319
10.1引言319
10.2静态电路的时序控制319
10.3锁存器和触发器的电路设计332
10.4静态时序元件设计方法学342
10.5动态电路的时序控制350
10.6同步器350
10.7行波流水358
10.8常见隐患与误区359
10.9案例研究：Pentium 4和Itanium 2的时序控制策略360
本章小结360
习题362
第11章 数据通路子系统364
11.1引言364
11.2加法／减法364
11.3 1/0检测器391
11.4比较器392
11.5计数器394
11.6布尔逻辑运算397
11.7编码397
11.8移位器400
11.9乘法404
11.10并行前置计算417
11.11常见隐患与误区420
本章小结420
习题420
第12章 阵列子系统422
12.1引言422
12.2 SRAM423
12.3 DRAM446
12.4只读存储器450
12.5顺序存取存储器456
12.6按内容寻址存储器457
12.7可编程逻辑阵列459
12.8鲁棒性好的存储器设计462
12.9历史透视465
本章小结466
习题466
第13章 专用子系统468
13.1引言468
13.2封装及冷却技术468
13.3电源分布472
13.4时钟482
13.5 PLL和DLL494
13.6 I/O503
13.7高速链接509
13.8随机电路521
13.9常见隐患与误区522
本章小结523
习题524
第14章 设计方法学与工具525
14.1引言525
14.2结构设计策略526
14.3设计方法534
14.4设计流程542
14.5设计经济学551
14.6数据表和文档558
14.7 CMOS物理设计风格560
14.8常见隐患与误区560
习题560
第15章 调试与验证561
15.1引言561
15.2测试仪、测试夹具和测试程序566
15.3逻辑验证原理570
15.4硅片调试原理572
15.5制造测试原理575
15.6可测性设计579
15.7边界扫描585
15.8大学环境下的测试586
15.9常见隐患与误区586
本章小结592
习题592
附录A硬件描述语言593
参考文献665
索引694