图书介绍
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- 徐拾义编著 著
- 出版社： 北京：清华大学出版社
- ISBN：7302126135
- 出版时间：2006
- 标注页数：325页
- 文件大小：18MB
- 文件页数：338页
- 主题词：电子数字计算机－系统可靠性－系统设计－高等学校－教材；电子数字计算机－系统可靠性－系统分析－高等学校－教材
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图书目录
目录1
第1章 数字计算系统可信性及属性1
1.1 可信性定义及问题的提出1
1.2 影响可信性计算的主要因素2
1.2.1 失效的定义及后果3
1.2.2 故障的定义及性质4
1.2.3 错误的定义及传递性6
1.3 可信性的评估测度和提高可信性的措施9
1.4 小结10
1.5 思考题10
参考文献10
第2章 故障及故障模型11
2.1 故障模型及分类11
2.2 硬件结构类／功能类故障模型13
2.2.1 逻辑电路的结构类／功能类故障模型14
2.2.2 CMOS门电路的结构类／功能类故障模型14
2.3 软件结构类／功能类故障模型15
2.3.1 软件结构类故障模型15
2.3.2 软件功能类故障模型16
2.3.3 软件功能类故障的一个实例18
2.4 故障模型的建立标准19
2.4.1 建立故障模型的标准20
2.4.2 故障模型的不足21
2.5 小结22
2.6 思考题22
参考文献23
3.1.1 可信性的数量测度24
3.1 数字系统的可信性测度24
第3章 可信性测度和评估24
3.1.2 可信性的质量测度25
3.2 硬件系统的可靠性及其测度25
3.2.1 可靠性函数和失效函数26
3.2.2 MTTF,MTTR和MTBF的定义30
3.3 组合系统的可靠性33
3.3.1 串行系统的可靠性33
3.3.2 并行系统的可靠性34
3.3.3 串并／并串系统的可靠性35
3.3.4 非串行／非并行系统的可靠性37
3.4 软件系统可靠性及其测度39
3.5 可测性及其测度39
3.6.1 维护及其定义40
3.6 可维护性及其测度40
3.6.2 可维护性及其定义41
3.7 可用性及其测度43
3.8 安全性及其测度45
3.9 保密性及其测度46
3.10 可信性的综合评价标准47
3.11 小结48
3.12 思考题49
参考文献50
第4章 软件可靠性及其测度53
4.1 软件可靠性的重要意义53
4.2 软件开发的生命周期55
4.2.1 启动和结束阶段56
4.2.2 需求条件和规格说明56
4.2.3 建立原型样本57
4.2.4 设计58
4.2.5 编程59
4.2.6 测试60
4.3 软件可靠性及其测度62
4.4 软件错误及其对软件可靠性模型的影响63
4.4.1 软件错误与排错曲线64
4.4.2 软件错误与排错模型66
4.5 软件可靠性模型70
4.5.1 常数排错率的软件可靠性模型70
4.5.2 线性递减型排错率的软件可靠性模型73
4.5.3 指数递减型排错率的软件可靠性模型75
4.6 软件可靠性模型中常数估算77
4.6.1 常数型排错率的参数估算方法78
4.6.2 线性递减型排错率的参数估算方法79
4.6.3 指数递减型排错率的参数估算方法80
4.7 小结80
4.8 思考题81
参考文献82
第5章 冗余技术及其应用85
5.1 功能性冗余85
5.1.1 静态功能性冗余85
5.1.2 动态功能性冗余88
5.2 结构性冗余89
5.2.1 软硬件系统的结构性冗余89
5.2.2 主动冗余90
5.2.3 被动冗余95
5.2.4 混合冗余100
5.2.5 时间冗余110
5.3 编码技术及其应用111
5.3.1 检错编码和纠错编码的基本原理112
5.3.2 线性分组码116
5.3.3 汉明纠一检二编码120
5.3.4 萧纠一检二编码124
5.4 小结126
5.5 思考题126
参考文献128
第6章 避错技术132
6.1 规格说明阶段应用的避错技术133
6.1.1 确信技术134
6.1.2 验证技术135
6.2 在设计阶段应用的避错技术138
6.2.1 故障预防——设计过程中的确信技术139
6.2.2 故障检测——设计过程中的验证技术141
6.3 设计阶段应用的功能测试147
6.4 小结149
6.5 思考题149
参考文献149
第7章 防错技术151
7.1 故障防止应注意的事项151
7.2 防止故障的措施152
7.2.1 硬件系统采取的防止故障措施152
7.2.2 软件系统采取的防止故障措施154
7.3 小结157
7.4 思考题157
参考文献157
8.1 测试的基本概念158
第8章 硬件系统排错技术158
8.1.1 产品测试159
8.1.2 维护性测试160
8.2 逻辑测试的基本概念165
8.2.1 逻辑测试的基本类型165
8.2.2 逻辑测试中测试生成的基本参数167
8.2.3 逻辑测试的基本分类167
8.2.4 逻辑测试的实施步骤169
8.3 组合电路的测试和测试生成169
8.3.1 布尔差分170
8.3.2 D算法178
8.3.3 九值算法186
8.3.4 PODEM算法188
8.3.5 可控性和可观察性191
8.3.6 FAN算法194
8.3.7 面向测试码的Poage算法及压缩算法197
8.4 时序逻辑电路的测试生成202
8.4.1 时序电路测试的基本概念203
8.4.2 状态表验证和I/O校验序列204
8.4.3 利用鉴别序列生成的校验序列206
8.4.4 无鉴别序列时序电路的校验序列211
8.5 桥接故障模型及其测试生成214
8.5.1 桥接故障的类型214
8.5.2 非反馈型桥接故障的测试生成方法215
8.5.3 反馈型桥接故障的测试生成216
8.6 小结219
8.7 思考题219
参考文献222
9.1 软件测试的故障覆盖率225
第9章 软件系统排错技术225
9.2 语句测试227
9.3 分支和路径测试228
9.4 条件和决策测试229
9.5 变异测试法230
9.5.1 变异测试基本概念230
9.5.2 变异测试的实施231
9.6 软件内建自测试的基本思想及实施框架233
9.7 常用的测试用例生成方法简介234
9.7.1 黑盒测试用例生成方法234
9.7.2 白盒测试的测试用例生成方法234
9.7.3 二叉化基本路径测试的分析法235
9.8 两种值得注意的软件故障模型的分析239
9.7.4 基本路径二叉化的路径覆盖率分析239
9.8.1 变量未初始化240
9.8.2 空指针240
9.9 小结242
9.10 思考题242
参考文献243
第10章 可测性设计246
10.1 可测性设计思想的提出246
10.2 可测性设计的基本原理248
10.2.1 测试质量和可测性属性248
10.2.2 可测性的属性248
10.3 随机应变法249
10.3.1 设置附加测试点249
10.3.2 便于初始化设置251
10.3.3 将大规模组合电路进行分解的方法252
10.3.4 提高对时序电路的可控性253
10.3.5 软件系统测试点设置和异常检测技术255
10.4 专用可测性电路及可测性软件设计方法258
10.4.1 Reed-Muller电路扩展技术258
10.4.2 控制逻辑插入技术261
10.4.3 专用可测性设计在软件中的应用263
10.5 组合电路BIT设计方法264
10.5.1 PLA电路的结构及基本故障模型265
10.5.2 PLA电路的可测性设计271
10.6 时序电路BIT设计方法274
10.6.1 扫描通路设计思想274
10.6.2 隔离（切换）部件的设计275
10.6.3 电平触发扫描设计277
10.6.4 扫描设计对系统开发成本的影响279
10.7 边界扫描BIT技术280
10.7.1 边界扫描问题的提出280
10.7.2 边界扫描设计的基本原理280
10.8 BIST方法283
10.8.1 BIST的基本概念283
10.8.2 线性反馈移位寄存器的基本理论284
10.8.3 一个可测性设计实例288
10.9 小结291
10.10 思考题292
参考文献294
第11章 容错设计技术297
11.1 结构性冗余技术300
11.1.1 软件的N版本（模）冗余的基本概念300
11.1.2 软件的N版本冗余技术的实现302
11.2.1 向后恢复技术303
11.2.2 向后恢复技术中的高速缓存303
11.2 卷回和向后恢复技术303
11.2.3 向后恢复技术中恢复点的确定304
11.2.4 向后恢复技术中运行环境的恢复305
11.3 向前恢复技术306
11.3.1 恢复模块式306
11.3.2 终结模式技术307
11.4 各种容错技术的比较307
11.4.1 容错设计技术的相似性307
11.4.2 容错设计技术的相异性308
11.5 运用容错技术与系统可信性的关系310
11.6 小结310
参考文献311
11.7 思考题311
第12章 故障安全技术313
12.1 故障安全系统313
12.1.1 利用固有的安全性314
12.1.2 利用结构冗余技术的安全性314
12.1.3 应用结构冗余设计故障安全系统实例315
12.2 自校验技术318
12.2.1 双轨校验电路319
12.2.2 n取m码自校验电路320
12.3 故障安全系统与自校验系统的比较322
12.4 小结323
12.5 思考题323
参考文献324