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绪论1

0.1 测试技术的含义1

0.2 测试技术的地位和作用1

0.3 测试技术的发展方向2

第1章 测试系统的基本特性4

1.1 测试系统的静态特性4

1.1.1 测试系统的静态数学模型4

1.1.2 静态特性的基本参数4

1.1.3 静态特性的品质指标5

1.2 测试系统的动态特性7

1.2.1 测试系统的动态数学模型7

1.2.2 测试系统的动态特性8

1.2.3 测试系统的动态特性参数10

第2章 测试系统的信号获取13

2.1 传感器的基本知识13

2.1.1 传感器的定义13

2.1.3 传感器的发展方向14

2.1.2 传感器的分类14

2.2 温度传感器16

2.2.1 热电阻16

2.2.2 热敏电阻18

2.2.3 热电偶20

2.2.4 电流集成型温度传感器AD59026

2.2.5 数字式温度传感器DS18B2032

2.3 金属应变式传感器37

2.3.1 金属应变片的工作原理37

2.3.2 金属应变片的结构和分类38

2.3.3 金属应变片的主要特性及参数39

2.3.4 金属应变片的测量电桥40

2.3.5 金属应变式传感器的应用44

2.4 电容式传感器44

2.4.1 变间隙式电容传感器45

2.4.2 变面积电容传感器46

2.4.3 变介电常数式电容传感器47

2.4.4 电容式传感器的测量电路48

2.4.5 电容式传感器的应用52

2.5 光电式传感器53

2.5.1 光电元件53

2.5.2 光电元件的特性58

2.5.3 光电传感器的应用61

2.6 光纤传感器63

2.6.1 光纤传感器的基本原理64

2.6.2 光纤的种类及主要参数65

2.6.3 光纤传感器的组成与分类67

2.6.4 光纤传感器的应用68

2.7 智能传感器71

2.7.1 智能传感器的构成及特点71

2.7.2 智能传感器的应用72

3.1 A/D转换器接口74

3.1.1 A/D转换的基本原理74

第3章 测试系统的接口技术和总线技术74

3.1.2 A/D转换器的主要参数78

3.1.3 A/D转换器的选择原则79

3.1.4 A/D转换器与微处理器的接口方法80

3.1.5 常用A/D转换器及接口电路设计81

3.2 串行通信接口89

3.2.1 串行通信接口概述89

3.2.2 数据传送方式89

3.2.3 串行通信方式90

3.2.4 串行通信中的调制解调器91

3.2.5 串行通信的接口标准——RS-232C92

3.2.6 串行通信的接口电路设计94

3.3 总线技术99

3.3.1 总线概述99

3.3.2 常用的总线标准103

3.3.3 PC系列总线109

4.1 被测信号种类114

第4章 智能测试系统设计114

4.2.1 系统硬件组成115

4.2 智能测试系统的基本结构及功能115

4.2.2 系统软件结构116

4.3 智能测试系统的设计原则118

4.3.1 组建测试系统的基本原则118

4.3.2 组建测试系统的基本方法118

4.4 单片机自动测试系统121

4.4.1 数据采集系统的结构121

4.4.2 单片机自动测试系统的软件结构132

4.4.3 标度变换133

4.4.4 单片机自动测试系统的设计136

4.5 PC机自动测试系统139

4.5.1 PC机的选择原则139

4.5.2 PC机自动测试系统的设计实例140

4.6 分布式自动测试系统146

4.6.2 化学发光免疫定量测量仪的结构147

4.6.1 化学发光免疫定量测定方法147

4.6.3 单片机与PC机的串行通信148

第5章 虚拟仪器技术151

5.1 概述151

5.1.1 虚拟仪器的概念151

5.1.2 虚拟仪器的特点及意义152

5.1.3 虚拟仪器的现状及发展前景153

5.2 虚拟仪器的构成形式154

5.2.1 PC-DAQ型154

5.2.2 标准通用接口型155

5.2.3 闭环控制型157

5.3 虚拟仪器的开发平台158

5.3.1 虚拟仪器开发平台的种类158

5.3.2 LabVIEW软件开发平台的特点158

5.3.3 图形化程序设计方法160

5.4.2 选择仪器的组建方式161

5.4.1 虚拟仪器软件开发环境的比较与选择161

5.4 虚拟仪器的开发思路161

5.4.3 软件设计162

5.5 基于LabVIEW的虚拟仪器设计163

5.5.1 虚拟频率信号采集系统的开发163

5.5.2 基于网络的虚拟测试系统168

第6章 测试系统的抗干扰技术171

6.1 干扰因素171

6.2.2 电磁耦合172

6.2.1 静电耦合172

6.2 干扰进入系统的基本形式172

6.2.3 共阻抗耦合173

6.2.4 漏电流耦合173

6.2.5 传导耦合174

6.2.6 辐射电磁场耦合174

6.3 共模干扰与差模干扰174

6.3.1 差模干扰174

6.4.1 接地技术175

6.4 测试系统的抗干扰措施175

6.3.2 共模干扰175

6.3.3 共模干扰抑制比175

6.4.2 屏蔽技术179

6.4.3 滤波技术182

6.4.4 隔离技术185

6.4.5 印刷电路板布线抗干扰方法187

6.4.6 软件抗干扰方法190

6.5 抗干扰实验191

6.5.1 静电放电试验191

6.5.2 快速瞬变脉冲群试验192

6.5.3 抗雷击浪涌实验192

6.6 测控系统抗干扰设计实例193

6.6.1 硬件的抗干扰设计194

6.6.2 软件的抗干扰设计197

参考文献197